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CURSO:CRISTALOGRAFIA DE RAYOS-X Y TECNICAS DE RESOLUCION ESTRUCTURAL
TRADUCCION:X-RAY CRYSTALLOGRAPHY AND STRUCTURAL RESOLUTION TECHNIQUES
SIGLA:QIM403
CREDITOS:10
MODULOS:02
CARACTER:OPTATIVO
TIPO:CATEDRA
CALIFICACION:ESTANDAR
PALABRAS CLAVE:CRISTALOGRAFIA,RAYOS-X,ESTRUCTURAS,CRISTALINAS,REFINAMIENTO
NIVEL FORMATIVO:PREGRADO


INTEGRIDAD ACADEMICA Y CODIGO DE HONOR

La Universidad tiene un compromiso con la construccion de una cultura de respeto e integridad. Quienes participen de este curso se adscriben al Codigo de Honor UC y adquieren el compromiso de aportar a la construccion de una cultura de Integridad Academica, actuando en consonancia con los valores de veracidad, confianza, respeto, justicia, responsabilidad y honestidad en todo el trabajo academico.


I.DESCRIPCIÓN DEL CURSO

En este curso los y las estudiantes analizaran los conceptos fundamentales de cristalografia y fenomeno de difraccion de rayos-x, para utilizar en la resolucion y refinamiento de estructuras cristalinas, de compuestos organicos e inorganicos, comenzando con operaciones de simetria puntual y espacial, hasta la descripcion de estructuras cristalinas de publicaciones recientes. Analizaran los conceptos matematicos que estan involucrados en la difraccion de rayos-x por cristales, los cuales se veran reforzados utilizando software dedicado al procesamiento, refinamiento y visualizacion de estructuras cristalinas. El curso contempla clases expositivas y estrategias metodologicas activas. Las evaluaciones se realizaran mediante interrogaciones, trabajos de investigacion y exposiciones orales.


II.RESULTADOS DE APRENDIZAJE

1.Aplicar los principios fundamentales de la cristalografia para describir la estructura de los solidos a traves de los distintos elementos de simetria presentes.

2.Interpretar patrones de difraccion de rayos-x de polvo para identificar y cuantificar fases cristalinas en muestras solidas mediante el uso de bases de datos y softwares.

3.Proponer soluciones a problemas practicos relacionados con la caracterizacion de materiales cristalinos, utilizando metodos avanzados de refinamiento estructural en contextos de investigacion aplicada.

4.Evaluar la fiabilidad de los datos experimentales obtenidos en difraccion de rayos-x de polvo, proponiendo mejoras en la preparacion de muestras y el dise?o experimental en estudios de resolucion estructural.


III.CONTENIDOS

1.Estado Cristalino y Simetria
1.1.Redes cristalinas, planos, direcciones e indices
1.2.La red reciproca
1.3.Elementos finitos e infinitos de simetria

2.Caracteristicas de los Rayos-X y Fundamentos de la Difraccion
2.1.Naturaleza, produccion y deteccion de los rayos-X y otros tipos de radiacion
2.2.Dispersion de los rayos-x por electrones, atomos, y redes
2.3.Interpretacion del patron de difraccion

3.Resolucion de la Estructura Cristalina
3.1.El factor de estructura
3.2.Ausencias sistematicas y grupos espaciales
3.3.El problema de las fases

4.Difractometria de Polvo y Calidad y Procesamiento de los Datos
4.1.Rese?a de los metodos de difraccion de polvo
4.2.Preparacion de muestra e interpretacion de los datos obtenidos
4.3.Identificacion de fases y analisis cuantitativo

5.Determinacion y Refinamiento de la Red y de la Estructura Cristalina
5.1.Indexacion y fiabilidad de la indexacion
5.2.El metodo de Rietveld
5.3.Softwares


IV.ESTRATEGIAS METODOLOGICAS

-Clases expositivas.

-Aprendizaje basado en problemas.

-Talleres.


V.ESTRATEGIAS EVALUATIVAS

-Interrogaciones: 34%

-Seminarios: 33%

-Presentacion de articulos: 33%


VI.BIBLIOGRAFIA

Minima

Pecharsky, V.; Zavalij, V.(2009). Fundamentals of Powder Diffraction and Structural Characterization of Materials. Editorial Springer. New York, Estados Unidos.

Julian, M.M.(2015). Foundations of Crystallography with Computer Applications. Editorial CRC Press. Florida, Estados Unidos.

Ooi, L.l.(2010). Principles of X-ray Crystallography. Oxford University Press, Oxford, Inglaterra.

Waseda, Y.; Matsubara, E.; Shinoda, K.(2011). X-ray Diffraction Crystallography: Introduction, Examples and Solved Problems. Springer, Heidelberg, Alemania.

Ubic, R.(2024). Crystallography and Crystal Chemistry. Springer, Heidelberg, Alemania.


Complementaria

Esteve, V.(2014). El Metodo Rietveld. Universitat Jaume I, Servei de Comunicacio i Publications, Castello de la Plana, Espa?a.

Morawiec, A.(2022). Indexing of Crystal Diffraction Patterns: From Crystallography Basics to Methods of Automatic Indexing. Srpinger, Heidelberg, Alemania.

Blazquez, V.; Lorenzo, V.; del Rio, B.(2014). Ingenieria y Ciencia de los Materiales Metalicos. Dextra Editorial S.L., Madrid, Espa?a.

Mittemeijer, E.(2021). Fundamentals of Materials Science: The Microstructure-Property Relationship Using Metals and Models Systems. Springer, Heidelberg, Alemania.


PONTIFICIA UNIVERSIDAD CATOLICA DE CHILE
FACULTAD DE QUIMICA / OCTUBRE 2024