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CURSO : TECNICAS DE CARACTERIZACION DE MATERIALES
TRADUCCION : EXPERIMENTAL TECHNIQUES FOR MATERIALS
CHARACTERIZATION
SIGLA : FIM4008
CREDITOS : 15 UC
REQUISITOS : FIM8310 O FIM8320
RESTRICCIONES : 30501
CARACTER : OPTATIVO
TIPO DE ACTIVIDAD : CATEDRA
CALIFICACION : ESTANDAR
DISCIPLINA : FISICA

I. DESCRIPCION

En este curso se aborda el conocimiento, las tecnicas y metodos para caracterizar materia condensada. Al final del curso, el alumno sera capaz de elegir el metodo correspondiente para contestar su pregunta cientifica, saber exactamente que propiedades esta midiendo con el metodo escogido para posteriormente interpretar los datos correctamente y conocer los artefactos que se puedan producir.

II. OBJETIVOS

1. Conocer y adquirir el dominio de las tecnicas y metodos de caracterizar materia condensada para una situacion real de investigacion en materiales.
2. Conocer los equipos y el manejo y aplicaciones de Microscopia electronica (SEM) y Difraccion de Rayos-X. C para analisis en investigacion doctoral.

III. CONTENIDOS

1. Metodos de difraccion: Rayos X (XRD), electrones (LEED, RHEED).
2. Metodos de dispersion: Adsorcion, transmision, reflexion
3. Espectroscopia de fluorescencia.
4. Espectroscopia Raman.
5. Espectroscopia electronica de rayos X (XPS).
6. Espectroscopia Auger (AES).
7. Espectroscopia de luz ultravioleta (UPS).
8. Metodos microscopicos.
9. Aspectos generales: Combinacion de metodos dispersivos con metodos microscopicos, region de investigacion: bulto, superficie, profundidad de penetracion.

IV. METODOLOGIA

Trabajo de laboratorio

V. EVALUACION

Manejo del equipo durante el trabajo de laboratorio 30%
Trabajo escrito reportando el analisis de diferentes materiales con evaluacion del analisis 70%

VI. BIBLIOGRAFIA

Czanderma, A.W. (Ed.) Method of Surface Analysis. North-Holland, 1989

Suryanarayana, C. and Grant Norton, M. ?X-Ray Diffraction, A Practical Approach? Plenum Press, 1998 (548.83 S963x)

Cullity, B. D. (Bernard Dennis): Elements of x-ray diffraction / B. D. Cullity, S. R. Stock.. Upper Saddle River, NJ : Prentice Hall, c2001.. xvxviii, 678 p. : : il..548.83 C967e

?Introductory Raman spectroscopy ? John R. Ferraro, Kazuo Nakamoto, Chris W. Brown. c2003.

?Modern Raman spectroscopy : a practical approach? Ewen Smith, Geoffrey Dent. c2005

?Transmission Electron Microscopy A Textbook for Materials Science? David B. Williams
C. Barry Carter; SpringerLink (Online service).